Главная
 
Разделы
 
 
Инженерные основы измерений нанометровой точности
Инженерные основы измерений нанометровой точности Автор: Жанр: Разное Издательство: Интеллект Год: 2012 Количество страниц: 400 Формат:  PDF (20.00 МБ)
Дата загрузки: 16 декабря 2014


Поделись
с друзьями!
 

Аннотация

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нано метровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемое измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Скачать с нашего сайта
Комментарии

Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикаци.
 

 

2011–2024

Рейтинг@Mail.ru